(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210652785.5 (22)申请日 2022.06.10 (71)申请人 中电云数智科技有限公司 地址 430100 湖北省武汉市经济技 术开发 区人工智能科技园N栋研发楼3层 N3013号 (72)发明人 胡波　 (74)专利代理 机构 工业和信息化部电子专利中 心 11010 专利代理师 袁鸿 (51)Int.Cl. H04L 9/40(2022.01) H04L 9/32(2006.01) (54)发明名称 一种数据校验方法及装置 (57)摘要 本发明公开了一种数据校验方法及装置， 包 括： 将目标数据文件拆分为多个子数据分块； 利 用第一数据摘要算法计算各子数据分块的第一 校验值； 拼接各子数据分块的第一校验值； 利用 第二数据摘要算法计算拼接后的第一校验值的 第二校验值， 以获得目标数据文件的校验值。 本 发明实施例通过将目标数据文件拆分成多个子 数据分块， 并基于多个子数据分块来计算校验 值， 以生成最终的校验值， 由此可 以在目标数据 文件存在修改的情况下， 仅重复计算对应的子数 据分块的校验值， 极大降低了运算量， 提高信息 摘要的效率。 权利要求书2页 说明书5页 附图1页 CN 115225319 A 2022.10.21 CN 115225319 A 1.一种数据校验方法， 其特 征在于， 包括： 将目标数据文件拆分为多个子数据分块； 利用第一数据摘要算法计算各子数据分块的第一校验值； 拼接各子数据分块的第一校验值； 利用第二数据摘要算法计算拼接后的第 一校验值的第 二校验值， 以获得目标数据文件 的校验值。 2.如权利要求1所述的数据校验方法， 其特征在于， 在修改目标数据文件的情况下， 所 述数据校验方法还 包括： 确定存在修改的子数据分块， 并利用第 一数据摘要算法重新计算该子数据分块的第 一 校验值； 基于重新计算的第一校验值以及其他不存在修改的子数据分块的校验值计算目标数 据文件的校验值。 3.如权利要求2所述的数据校验方法， 其特征在于， 在拆分的子数据分块的数量超过预 设数量阈值的情况 下， 所述数据校验方法还 包括： 将多个子数据分块进行分组； 利用第一数据摘要算法计算任一组的各子数据分块的第一校验值并进行拼接； 利用第二数据摘要算法计算 拼接后的第一校验值的第二校验值， 并拼接第二校验值； 利用第三数据摘要算法计算拼接后的第 二校验值的第 三校验值， 以获得目标数据文件 的校验值。 4.如权利要求3所述的数据校验方法， 其特征在于， 将多个子数据分块进行分组包括： 采用树状结构进行分组。 5.一种数据校验 装置， 其特 征在于， 包括处 理器被配置为： 将目标数据文件拆分为多个子数据分块； 利用第一数据摘要算法计算各子数据分块的第一校验值； 拼接各子数据分块的第一校验值； 利用第二数据摘要算法计算拼接后的第 一校验值的第 二校验值， 以获得目标数据文件 的校验值。 6.如权利要求5所述的数据校验装置， 其特征在于， 在修改目标数据文件的情况下， 所 述处理器还被 配置为： 确定存在修改的子数据分块， 并利用第 一数据摘要算法重新计算该子数据分块的第 一 校验值； 基于重新计算的第一校验值以及其他不存在修改的子数据分块的校验值计算目标数 据文件的校验值。 7.如权利要求6所述的数据校验装置， 其特征在于， 在拆分的子数据分块的数量超过预 设数量阈值的情况 下， 所述处 理器还被 配置为： 将多个子数据分块进行分组； 利用第一数据摘要算法计算任一组的各子数据分块的第一校验值并进行拼接； 利用第二数据摘要算法计算 拼接后的第一校验值的第二校验值， 并拼接第二校验值； 利用第三数据摘要算法计算拼接后的第 二校验值的第 三校验值， 以获得目标数据文件权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115225319 A 2的校验值。 8.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质上存储有计算机 程序， 所述计算机程序被处 理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115225319 A 3