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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211300938.6 (22)申请日 2022.10.24 (71)申请人 北京测威科技有限公司 地址 100086 北京市海淀区知春路甲48号3 号楼1单元6A室 申请人 中国兵器 工业第五九研究所 北京航空航天大 学云南创新研究院 (72)发明人 吴护林 彭刚 洪韬 张天才 陈知华 李忠盛 徐塱 邓贤明 田进军 项运良 方林全 张小华 (74)专利代理 机构 北京三环同创知识产权代理 有限公司 1 1349 专利代理师 邵毓琴 赵勇 (51)Int.Cl. G01S 7/41(2006.01)G01S 7/40(2006.01) G01S 13/88(2006.01) H04N 5/33(2006.01) H04N 5/232(2006.01) (54)发明名称 外场RCS复合测量系统 (57)摘要 本发明提供一种外场RCS复合测量系统, 涉 及外场RCS测量领域。 该系统包括: 支架; 抛物面 天线, 设置于支架上, 其姿态能够独立于支架调 整, 用于向目标区域的被测目标发射电磁波, 并 接收被测目标产生的散射回波; RCS计算装置, 用 于根据所述散射回波计算被测目标的RCS; 红外 摄像头, 设置于抛物面天线的中心, 用于根据被 测目标辐射的红外线对被测目标进行红外成像; 显控装置, 用于显示被测目标的红外图像, 控制 抛物面天线的姿态和红外摄像头的姿态; 在测量 时, 红外摄像头的光轴 与抛物面天线的电轴保持 重合, 所述显控装置根据所述红外图像控制红外 摄像头对准被测目标, 以引导抛物 面天线对准所 述被测目标。 该复合测量系统可以降低RCS测量 的对准精度误差 。 权利要求书2页 说明书8页 附图1页 CN 115372929 A 2022.11.22 CN 115372929 A 1.一种外场RCS复合测量系统, 其特 征在于, 所述复合测量系统包括: 支架, 抛物面天线, 设置于所述支架上, 所述抛物面天线的姿态能够独立于所述支架调整, 用 于向设置在目标区域的被测目标发射电磁波, 并接收所述电磁波遇到所述被测目标后所述 被测目标产生的散射回波; RCS计算装置, 用于根据所述被测目标的散射回波计算所述被测目标的RCS值; 红外摄像头, 设置于所述抛物面天线的中心, 用于感测所述被测目标辐射的红外线, 根 据所述红外线对所述被测目标进行红外成像; 以及 显控装置, 用于显示所述被测目标的红外 图像, 控制所述抛物面天线的姿态以及所述 红外摄像头的姿态; 其中, 在对所述被测目标进行测量时, 所述红外摄像头与所述抛物面天线之间保持所 述抛物面 天线的电轴与所述红外摄像头的光轴重合的相对姿态, 所述显控装置根据所述被 测目标的红外图像控制所述红外摄像头对准所述被测目标, 以引导所述抛物面天线对准所 述被测目标。 2.根据权利要求1所述的复合测量系统, 其特征在于, 所述根据 所述被测目标的散射 回 波计算所述被测目标的RCS值包括: 根据所述被测目标的散射回波以及标 校系数计算所述被测目标的RCS值。 3.根据权利要求2所述的复合测量系统, 其特征在于, 所述标校系数通过标准体定标比 测量法确定 。 4.根据权利要求3所述的复合测量系统, 其特 征在于, 所述显控装置还用于在使用所述标准体定标比测量法进行定标时控制所述抛物面天 线对定标体进行粗对准, 以引导所述红外摄 像头对所述定标体进行粗对准; 所述红外摄像头还用于在粗对准所述定标体时感测所述定标体辐射的红外线, 根据 所 述定标体辐射的红外线对所述定标体进行红外成像; 所述显控装置还用于根据所述定标体的红外图像控制所述红外摄像头对所述定标体 进行精对准, 以引导所述抛物面天线对所述定标体进行精对准, 所述抛物面天线还用于在精对准所述定标体时向所述定标体发射电磁波, 接收所述电 磁波遇到所述定标体后所述定标体产生的散射回波, 所述RCS计算装置还用于根据所述定标体的散射回波确定所述标 校系数, 其中, 所述定标体为RCS值已知的标准体。 5.根据权利要求1所述的复合测量系统, 其特 征在于, 所述复合测量系统还 包括: 微波成像装置, 用于根据所述被测目标的散射回波对所述被测目标进行微波成像。 6.根据权利要求5所述的复合测量系统, 其特征在于, 所述显控装置还用于显示所述被 测目标的微波图像。 7.根据权利要求5所述的复合测量系统, 其特征在于, 所述显控装置还用于对所述被测 目标的微波图像和红外图像进行融合显示。 8.根据权利要求1所述的复合测量系统, 其特征在于, 所述抛物面天线的馈源设置为偏 馈。 9.根据权利要求1所述的复合测量系统, 其特征在于, 所述抛物面天线与所述目标区域权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115372929 A 2的距离大于等于 50米且小于等于10 00米。 10.根据权利要求1所述的复合测量系统, 其特 征在于, 在对机动目标进行测量 时, 所述显控装置根据所述机动目标的红外图像调 整所述红外 摄像头, 使所述红外摄像头始终对准所述机动目标, 以引导所述抛物面天线始终对准所述 机动目标。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115372929 A 3
专利 外场RCS复合测量系统
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