(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210543054.7 (22)申请日 2022.05.18 (71)申请人 熵智科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市福田区华强北 街道福强社区振华路中电迪富大厦7 层703 (72)发明人 王彦喆　胡浩　李一哲　 (74)专利代理 机构 深圳市世纪恒程知识产权代 理事务所 4 4287 专利代理师 高莎 (51)Int.Cl. G01B 11/00(2006.01) G01B 11/24(2006.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 5/50(2006.01)G06T 7/00(2017.01) G06T 7/246(2017.01) G06T 7/73(2017.01) G06T 7/80(2017.01) (54)发明名称 物体表面3D测量方法、 装置、 设备及计算机 可读存储介质 (57)摘要 本发明属于光学测量技术领域， 公开了一种 物体表面3D测量方法、 装置、 设备及计算机可读 存储介质。 该方法包括： 获取采样参数信息， 根据 所述采样参数信息确定所述3D测量控制设备的 当前测量参数； 根据所述当前测量参数对所述被 测物体表 面进行测量， 得到所述被测物体表面的 光谱图像数据； 获取所述运动台的运动参数； 根 据所述光谱图像数据和运动参数确定所述被测 物体表面的3D点云数据。 通过先得到被测物体的 采样信息自动化的设定好光谱传感器的相关参 数， 通过差异化的测量参数对被测物体进行测 量， 避免了测量特殊材料时， 光谱传感器无法达 到理想检测条件， 提高了3D测量的适应性， 相比 于人工校正更加快速 便捷。 权利要求书2页 说明书10页 附图7页 CN 115218781 A 2022.10.21 CN 115218781 A 1.一种物体表面3D测量方法， 其特征在于， 所述物体表面3D测量方法应用于3D测量控 制设备， 所述3D测量控制设备包括： 光谱共焦传感器和运动台， 所述光谱共焦传感器用于生 成轴向聚焦光谱， 并采集轴向聚焦光谱中被测物体表面的图像信息， 所述运动台用于控制 被测物体移动， 以让所述被测物体表面均经过所述轴向聚焦光谱， 所述物体表面3D测量方 法包括： 获取所述被测物体的采样参数信 息， 所述采样参数信 息包括所述被测物体的图像信 息 和/或所述被测物体所处采样环境中的光学 数据； 根据所述采样参数信息确定所述3D测量控制设备的当前测量 参数； 根据所述当前测量参数对所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测物体表面的光谱 图像数据； 获取所述运动台的运动参数； 根据所述 光谱图像数据和运动参数确定所述被测物体表面的3D点云数据。 2.如权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据 所述光谱图像数据和运动参数确定 所述被测物体表面的3D点云数据， 包括： 根据所述 光谱图像数据生成所述被测物体表面的灰度图像数据； 根据所述灰度图像数据确定所述被测物体表面的反射回波 波峰曲线； 根据所述反射回波 波峰曲线和所述 运动参数确定所述被测物体表面的3D点云数据。 3.如权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据 所述采样参数信 息确定所述3D测量 控制设备的当前测量 参数， 包括： 根据所述采样参数信息确定所述被测物体表面的采样图像数据以及所述3D测量控制 设备检测到的暗信号； 根据所述采样图像数据对所述3D测量控制设备进行融合标定， 得到标定参数； 根据所述暗信号确定所述3D测量控制设备的去噪参数； 根据所述标定参数和所述去噪参数确定所述当前测量 参数。 4.如权利要求3所述的方法， 其特 征在于， 所述 根据所述暗信号确定去噪参数， 包括： 获取所述3D测量控制设备的分辨 率； 根据所述3D测量控制设备的分辨 率和所述暗信号确定所述去噪参数。 5.如权利要求1至4中任一项所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述当前测量参数对 所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测物体表面的光谱图像数据之前， 还 包括： 在所述被测物体位于所述 运动台上时， 检测所述3D测量控制设备的光谱视野信息； 根据所述 光谱视野信息确定所述被测物体的当前位置； 在所述当前位置未检测到所述被测物体的物体表面 时， 控制所述运动台移动直至检测 到所述被测物体的物体表面。 6.如权利要求1至4中任一项所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述当前测量参数对 所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测物体表面的光谱图像数据之前， 还 包括： 获取所述被测物体的材 料信息； 根据所述材 料信息设置所述3D测量控制设备的 曝光时间； 所述根据 所述当前测量参数对所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测物体表面的 光谱图像数据， 包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115218781 A 2根据所述当前测量参数和所述曝光 时间对所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测 物体表面的光谱图像数据。 7.如权利要求1至4中任一项所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述当前测量参数对 所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测物体表面的光谱图像数据之前， 还 包括： 获取所述光谱共焦传感器的量 程范围； 根据所述 量程范围进行 所述光谱共焦传感器的量 程峰值标定， 得到量 程标定结果； 在所述量程标定结果为测量值保持线性分布时， 执行根据 所述当前测量参数对所述被 测物体表面进行测量， 得到所述被测物体表面的光谱图像数据的步骤。 8.一种物体表面3D测量装置， 其特征在于， 所述物体表面3D测量装置包括： 光谱共焦传 感器和运动台， 所述光谱共焦传感器用于生成轴向聚焦光谱， 并采集轴向聚焦光谱中被测 物体表面的图像信息， 所述运动台用于控制被测物体移动， 以让所述被测物体表面均经过 所述轴向聚焦光谱， 所述物体表面3D测量装置还 包括： 获取模块， 用于获取所述被测物体的采样参数信息， 所述采样参数信息包括所述被测 物体的图像信息和/或所述被测物体所处采样环境中的光学 数据； 处理模块， 用于所述当前测量参数对所述被测物体表面进行测量， 得到所述被测物体 表面的光谱图像数据； 其中， 所述处理模块还用于根据所述当前测量参数对所述被测物体表面进行测量， 得 到所述被测物体表面的光谱图像数据； 所述获取模块还用于获取 所述运动台的运动参数； 所述处理模块还用于根据所述光谱图像数据和运动参数确定所述被测物体表面的3D 点云数据。 9.一种物体表面3D测量设备， 其特征在于， 所述设备包括： 存储器、 处理器及存储在所 述存储器上并可在所述处理器上运行的物体表 面3D测量程序， 所述物体表面3D测量程序配 置为实现如权利要求1至7中任一项所述的物体表面3D测量方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质上存储有物体表 面3D测量程序， 所述物体表面3D测量程序被处理器执行时实现如权利要求 1至7任一项 所述 的物体表面3D测量方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115218781 A 3