(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211058719.1 (22)申请日 2022.08.31 (71)申请人 中信戴卡股份有限公司 地址 066318 河北省秦皇岛市经济技 术开 发区龙海道185号 (72)发明人 武国春　刘佳　王新宇　孟凡宇　 马超　宋蕾　徐继成　王雪峰　 樊金鑫　陶生辉　 (51)Int.Cl. G01N 1/28(2006.01) (54)发明名称 一种X光检测用缺陷样件的制备方法及应用 方法 (57)摘要 一种X光检测用缺陷样件的制备方法， 缺陷 样件为任意易机加工的金属材料。 本发明的有益 效果在于， 通过缺陷样件与编程样件的结合， 避 免在工件表 面进行人工打孔 从而破坏样件， 提高 铸件金属利用率， 因要保证打孔直径及深度相 同， 规避了编程样件表面人工钻孔的不稳定因 素， 其可以满足多种X光拍摄角度， 保证缺陷位置 打孔方向与X光拍摄方向的一致性， 提高了缺陷 孔所要求的精确及有效性。 权利要求书1页 说明书4页 附图2页 CN 115436125 A 2022.12.06 CN 115436125 A 1.一种X光检测用缺陷样件的制备 方法， 其特 征在于， 包括如下步骤： （1） 制备3块长宽高分别为50 ×50×1mm、 50×50×2mm及50×50×3mm的铝合金薄板 ‑板 1、 板2、 板 3； （2） 将每块板材分化 为10行10列的5 ×5mm样块， 共10 0方格； （3） 将3块板材进行机械钻孔， 缺陷孔数量及尺寸要求如 下， 样件每行包含10个缺陷孔， 两孔之间尺寸间隔为5m m： （4） 将打孔后的板材分别裁剪成5 ×5×1mm、 5×5×2mm及5×5×3mm规格的缺陷样件， 粘贴到双面胶纸上， 使用时从胶纸上 取下粘贴到铸件表面上。 2.一种X光检测用缺陷样件的应用方法， 其特 征在于， 包括如下步骤： （1） 确认编程应用权1制备 方法制备的样件打孔的位置及该位置X光的拍摄角度； （2） 挑选不同缺陷孔角度的缺陷样件粘贴到编程样件孔位置， 保证缺陷孔角度与该位 置X光的照射角度相同。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115436125 A 2一种X光检测用缺陷样件的制备方 法及应用方 法 技术领域 [0001]本发明涉及汽车零部件技术领域， 具体地说是一种X光检测用缺陷样件的制 备方 法及应用方法。 背景技术 [0002]X光射线检测是现代工业生产 中质量检测、 质量监控、 质量保证 的重要手段， 由于 其具备缺陷定位精 准性高、 检测结果易记录以及显示直观等诸多优点， 被广泛应用于金属、 非金属材料制成的零部件， 以确定其内部缺陷， 如夹渣、 气孔、 裂纹等。 在工业生产中， 其具 有自动化程度高、 性能可靠、 操作简便、 检测速度快等特点， 广泛应用于汽车铸件以及焊缝 制作中存在的气孔以及裂纹等问题的检测。 [0003]现阶段X光批量检测前， 会进行X光机工作程序的编程及 检测效果的验证， X光拍摄 角度、 缺陷样件等因素影响X光机对铸件探伤结果的准确有效性， 其中缺陷孔角度应与该位 置X光照射角度平行， 通过识别缺陷孔在X光图片上呈现的形状及尺寸来判定X光机拍摄的 准确有效性， 原缺陷样件的制备需要在编程样件表面进行人工打孔从而破坏工件， 并且铸 件表面人工 打孔的不稳定性对检测结果造成影响。 通常根据产品造型及薄厚区域初步确定 电压、 电流值及拍照角度， 以确保射线能够完全穿透工件， 调整电压电流， 保证样件每个打 孔位置需图片上完整清晰可见， 当产品单个检测位置薄厚差异过大， 不能同时保证打孔完 整清晰可见时， 需分别对薄厚位置分开检测增加检测图片， 此时需要调整X光照射角度， 调 整后X光图片上缺陷孔如果不是圆形或缺陷尺寸与实际尺寸不符时， 需按缺陷样件制作要 求重新制定 。 发明内容 [0004]有鉴于此， 本 发明旨在提出一种X光检测用缺陷样件的制备方法， 可以辅助进行转 向节单孔试验台架搭建， 台架加载端 （例如导向等） 调整。 [0005]为达到上述目的， 本发明的技 术方案是这样实现的： 一种X光检测用缺陷样件的制备 方法， 包括如下步骤： （1） 制备3块长宽高分别为50 ×50×1mm、 50×50×2mm及50×50×3mm的铝合金薄 板‑板1、 板2、 板 3； （2） 将每块板材分化 为10行10列的5 ×5mm样块， 共10 0方格； （3） 将3块板材进行机械钻孔， 缺陷孔数量及尺寸要求如下， 样件每行包含10个缺 陷孔， 两孔之间尺寸间隔为5m m：说　明　书 1/4 页 3 CN 115436125 A 3