书 书 书犐犆犛 ７７ ． １００ 犎 １１ 中华人民共和国国家标准 犌犅 ／ 犜 ２４１９８ — ２００９ 镍铁 　 镍 、 硅 、 磷 、 锰 、 钴 、 铬和铜含量的 测定 　 波长色散 犡 射线荧光光谱法 （ 常规法 ） 犉犲狉狉狅狀犻犮犽犲犾 — 犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狀犻犮犽犲犾 ， 狊犻犾犻犮狅狀 ， 狆犺狅狊狆犺狅狉狌狊 ， 犿犪狀犵犪狀犲狊犲 ， 犮狅犫犪犾狋 ， 犮犺狉狅犿犻狌犿 ， 犪狀犱犮狅狆狆犲狉犮狅狀狋犲狀狋狊 — 犠犪狏犲犾犲狀犵狋犺犱犻狊狆犲狉狊犻狏犲犡狉犪狔犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔 （ 犚狅狌狋犻狀犲犿犲狋犺狅犱 ） ２００９  ０７  ０８ 发布 ２０１０  ０４  ０１ 实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布书 书 书前 　　 言 　　 本标准的附录 Ａ 和附录 Ｂ 为规范性附录 。 本标准由中国钢铁工业协会提出 。 本标准由全国生铁及铁合金标准化技术委员会归口 。 本标准主要起草单位 ： 酒泉钢铁 （ 集团 ） 有限责任公司 。 本标准主要起草人 ： 朱卫华 、 孙宇光 、 王昊 、 付宝荣 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 ２４１９８ — ２００９ 镍铁 　 镍 、 硅 、 磷 、 锰 、 钴 、 铬和铜含量的 测定 　 波长色散 犡 射线荧光光谱法 （ 常规法 ） 　　 警告 ： 使用本标准的人员应有正规实验室工作实践经验 。 本标准未指出所有可能的安全问题 。 使 用者有责任采取适当的安全和健康措施 ， 并保证符合国家有关法规规定的条件 。 １ 　 范围 本标准规定了用波长色散 Ｘ 射线荧光光谱法测定镍 、 硅 、 磷 、 锰 、 钴 、 铬和铜的含量 。 本方法适用于电炉 、 感应炉 、 转炉等铸态或锻轧镍铁的测定 。 各元素测定范围如表 １ 。 表 １ 　 元素及测定范围 分析元素 测定范围 （ 质量分数 ）／ ％ Ｎｉ Ｓｉ Ｐ Ｍｎ Ｃｏ Ｃｒ Ｃｕ１２．０ ～ ６０．０ ０．１０ ～ ２．０ ０．０１ ～ ０．１５ ０．０５ ～ ０．５０ ０．３０ ～ １．００ ０．０５ ～ １．００ ０．０５ ～ １．５ ２ 　 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 。 凡是注日期的引用标准 ， 其随后所有 的修改单 （ 不包括勘误的内容 ） 或修改版均不适用于本标准 ， 然而 ， 鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些标准的最新版本 。 凡是不注日期的引用标准 ， 其最新版本适用于本标准 。 ＧＢ ／ Ｔ４０１０ 　 铁合金化学分析用试样的采取和制备 ＧＢ ／ Ｔ６３７９．１ 　 测量方法与结果的准确度 （ 正确度与精密度 ） 　 第 １ 部分 ： 总则与定义 （ ＧＢ ／ Ｔ６３７９．１ — ２００４ ， ＩＳＯ５７２５１ ： １９９４ ， ＩＤＴ ） ＧＢ ／ Ｔ６３７９．２ 　 测量方法与结果的准确度 （ 正确度与精密度 ） 　 第 ２ 部分 ： 确定标准测量方法重复 性和再现性的基本方法 （ ＧＢ ／ Ｔ６３７９．２ — ２００４ ， ＩＳＯ５７２５２ ： １９９４ ， ＩＤＴ ） ＧＢ ／ Ｔ１６５９７ 　 冶金产品分析方法 　 Ｘ 射线荧光光谱法通则 ＧＢ ／ Ｔ２００６６ 　 钢和铁 　 化学成分测定用试样的取样和制样方法 （ ＧＢ ／ Ｔ２００６６ — ２００６ ， ＩＳＯ１４２８４ ： １９９６ ， ＩＤＴ ） ３ 　 原理 Ｘ 射线管产生的初级 Ｘ 射线照射到平整 、 光洁的样品表面上时 ， 产生的特征 Ｘ 射线经晶体分光后 ， 探测器在选择的特征波长相对应的 ２ θ 角处测量 Ｘ 射线荧光强度 。 根据校准曲线和测量的 Ｘ 射线荧光 强度 ， 计算出样品中镍 、 硅 、 磷 、 锰 、 钴 、 铬和铜的质量分数 。 ４ 　 试剂与材料 ４ ． １ 　 Ｐ１０ 气体 （ ９０％ 的氩和 １０％ 的甲烷的混合气体 ） 用于流气正比计数器 。 １ 犌犅 ／ 犜 ２４１９８ — ２００９ ４ ． ２ 　 有证标准物质或标准物质 有证标准物质 （ ＣＲＭ ） 或标准物质 （ ＲＭ ）。 用于日常分析绘制校准曲线时 ， 所选系列有证标准物质 或标准物质中各分析元素含量应覆盖分析范围且有适当的梯度 ； 用于对仪器进行漂移校正时 ， 所选有证 标准物质或标准物质应有良好的均匀性 ， 且接近校准曲线的上限和下限 。 ５ 　 仪器与设备 ５ ． １ 　 制样设备 试样切割设备和试样表面的抛光设备 。 ５ ． ２ 　 犡 射线荧光光谱仪 同时或顺序式波长色散光谱仪的分析精度和稳定性应达到附录 Ａ 要求 。 ５ ． ２ ． １ 　 犡 射线管 高纯元素靶的 Ｘ 射线管 ， 推荐使用铑靶 。 ５ ． ２ ． ２ 　 分析晶体 能覆盖方法中的所有元素和可能干扰元素 ， 可使用平面或弯曲面的晶体 。 ５ ． ２ ． ３ 　 准直器 对于顺序型仪器 ， 应选择合适的准直系统 。 ５ ． ２ ． ４ 　 探测器 闪烁计数器 ， 用于重元素分析 ； 流气正比计数器 ， 用于轻元素分析 。 也可以使用密封正比计数器 。 ５ ． ２ ． ５ 　 真空系统 测量过程中 ， 真空系统压强一般在 ３０Ｐａ 以下并保持恒定 ， 对于轻元素应低于 ２０Ｐａ 。 ５ ． ２ ． ６ 　 测量系统 计算机系统有合适的软件 ， 能够根据测量强度计算出各元素的含量 。 ６ 　 取制样 参照 ＧＢ ／ Ｔ２００６６ 和 ＧＢ ／ Ｔ４０１０ 的规定进行 。 试样的大小取决于试样盒的几何尺寸 ， 分析表面应能全部遮盖试样盒面罩 ， 同时保证样品厚度至少 ５ｍｍ 。 试样表面需研磨成平整 、 光洁的分析面 。 当用砂带或砂轮磨样时 ， 应选择合适磨料 ， 防止磨料沾污 ， 磨料粒度至少为 ６０ ＃ 。 如果试样暴露于空气中一天以上 ， 测量前必须重新研磨表面 。 ７ 　 仪器的准备 ７ ． １ 　 仪器工作环境 仪器的工作环境应满足 ＧＢ ／ Ｔ１６５９７ 。 ７ ． ２ 　 仪器工作条件 Ｘ 射线光谱仪在测量之前应按仪器制造商的要求使工作条件得到最优化 ， 并在测量前至少预热 １ｈ 或直到仪器稳定 。 ８ 　 分析步骤 ８ ． １ 　 测量条件 根据所使用仪器的类型 、 试样的种类 、 分析元素 、 共存元素及其含量变化范围 ， 选择适合的测量 条件 。 ２ 犌犅 ／ 犜 ２４１９８ — ２００９ （ １ ） 　 分析元素的计数时间取决于定量元素的含量及所要达到的分析精密度 ， 一般为 ５ｓ ～ ６０ｓ 。 （ ２ ） 　 计数率一般不超过所用计数器的最大计数 。 （ ３ ） 　 光管电压 、 电流的选择应考虑测定谱线最低激发电压和光管的额定功率 。 （ ４ ） 　 使用多个试样盒时 ， 样盒面罩不应对分析结果构成明显的影响 ， 样盒面罩直径一般为 ２０ｍｍ ～ ３５ｍｍ 。 （ ５ ） 　 推荐使用样品盒旋转工作方式 。 （ ６ ） 　 推荐使用的元素分析线 、 分光晶体 、 ２ θ 角 、 光管电压电流和可能干扰元素列入表 ２ 。 表 ２ 　 推荐使用的元素分析线 、 分光晶体 、 ２ θ 角 、 光管电压电流和可能干扰元素 元素 分析谱线 晶体 ２ θ 角 管流 ／ ｍＡ 管压 ／ ｋＶ 可能的干扰元素 Ｎｉ ＮｉＫ β １ ， ２ ＬｉＦ２００ ４３．７４９４ ５０ ５０ Ｃｏ 、 Ｃｕ 、 Ｎｂ 、 Ｍｏ Ｓｉ ＳｉＫ α １ ， ２ ＰＥ００２Ｃ １０９．０７４０ ２５ １００ Ｗ 、 Ｓｎ Ｐ ＰＫ α １ ， ２ Ｇｅ１１１Ｃ １４１．００１０ ２５ １００ Ｍｏ 、 Ｃｕ 、 Ｗ Ｍｎ ＭｎＫ α １ ， ２ ＬｉＦ２００ ６２．９８０４ ５０ ５０ Ｃｒ 、 Ｆｅ 、 Ｍｏ Ｃｏ ＣｏＫ β １ ， ２ ＬｉＦ２００ ５２．７６０８ ５０ ５０ Ｆｅ 、 Ｎｉ 、 Ｗ 、 Ｚｎ Ｃｒ ＣｒＫ α １ ， ２ ＬｉＦ２００ ６９．３６４８ ５０ ５０ Ｖ 、 Ｓｎ Ｃｕ ＣｕＫ α １ ， ２ ＬｉＦ２００ ４５．０２２４ ５０ ５０ Ｎｉ 、 Ｔａ 、 Ｗ Ｆｅ ＦｅＫ β １ ， ２ ＬｉＦ２００ ５１．７５３２ ５０ ５０ Ｃｏ 、 Ｍｎ 、 Ｗ 、 Ｚｎ 、 Ｓｎ ８ ． ２ 　 校准曲线的绘制与确认 ８ ． ２ ． １ 　 校准曲线的绘制 在选定的工作条件下 ， 用 Ｘ 射线荧光光谱仪测量一系列的与试样冶炼过程相似且化学成分相近的 有证标准物质 （ ＣＲＭ ） 或标准物质 （ ＲＭ ）， 每个样品应至少测量 ２ 次 。 用仪器所配的软件 ， 以有证标准物 质 （ ＣＲＭ ） 或标准物质 （ ＲＭ ） 中该元素的含量值和测量的荧光强度平均值计算出校准曲线参数 、 综合吸 收校正系数 （ 或 α 系数 ） 和谱线重叠干扰校正系数 ， 分别得到综合吸收校正模式和理论 α 系数校正模式 式 （ １ ） 和式 （ ２ ） 的计算公式 ： 狑 犻 ＝ （ ａ 犐 犻 ２ ＋ ｂ 犐 犻 ＋ ｃ ） × （ １ ＋ ∑ 犱 犼 狑 犼 ） － ∑ 犾 犼 狑 犼 　 （ 犻 ≠ 犼 ）………………（ １ ） 狑 犻 ＝ （ ｂ 犐 犻 ＋ ｃ ） × （ １ ＋ ∑ α 犼 狑 犼 ） － ∑ 犾 犼 狑 犼 　 （ 犻 ≠ 犼 ）……………………（ ２ ） 　　 式中 ： 狑 犻 ——— 有证标准物质 （ ＣＲＭ ） 或标准物质 （ ＲＭ ） 中分析元素 犻 的参考值 ， 用质量分数计 ， 以 ％ 表示 ；